臺式雙面電池PID測試儀|束蘊儀器出品

產(chǎn)品簡介

臺式雙面電池PID測試儀用于單面及雙面電池，HIT、Topcon、PERC/PERC+太陽能電池、晶體硅太陽能電池、微型模塊等的質(zhì)量控制Freiberg公司與德國FraunhoferCSP公司合作開發(fā)了一種可作為商業(yè)應(yīng)用的臺式太陽能電池和微型模塊的電勢誘導退控制的測量解決方案

產(chǎn)品型號：PIDcon bifacial

更新時間：2025-09-12

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：3580

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

電池片PID測試儀

PID操作軟件便攜式現(xiàn)場PID測試儀雙面電池PID測試儀

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雙面電池問題：

將電池的后側(cè)改為光蓋，被發(fā)現(xiàn)使雙面PERC電池和模塊對后側(cè)的新型PID敏感，即去極化型PID(PID-p)和腐蝕型PID機制(PID-c)。

解決方案：

為了測試電池的這些類型的PID，我們開發(fā)了PIDcon雙面體。它是用溫度、照明和高電壓對完整的電池進行壓力測試，它可以在兩個方向上進行極化。通過測量照明下的IV曲線，可以確定PID的靈敏度。

臺式雙面電池PID測試儀應(yīng)用：

太陽能電池片PID檢測

HIT、Topcon 、PERC、AL-BSF、PERC+、雙面PERC、PERT、PERL和IBC太陽能電池的研究、生產(chǎn)和質(zhì)量控制。

欲了解更多信息，請訪問 www.pidcon。。ｃｏｍ

臺式雙面電池PID測試儀PIDcon bifacial的特點：

● 符合IEC62804-TS標準

● 易于使用的臺式設(shè)備

● 能夠測量c-Si太陽能電池和微型模塊

● 無需氣候室

● 無需層壓電池

● 測量速度:小時至數(shù)天

● 可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導率、漏電流、濕度、溫度

● 太陽能電池可以在以后通過EL等進行研究

● 基于IP的系統(tǒng)允許遠程操作和技術(shù)支持從世界任何地方

標準試驗條件:

● 電壓:upto1.5kV

● 溫度:85°C

● 測試時間:4hours(typical)

● 干燥條件下，不需要水

類型受壓恢復
PID-s正面 85°C，+1.5 kV 85°C，-1.5 kV

PID-p背面 85°C，+1.5 kV，無照明 85°C，暗儲存或光照

PID-c背面 85°C，+1.5 kV，照明不可恢復

層壓 150°C，20min

樣品尺寸 210×210mm

適用于 A PERC,AL-BSF,IBC,PERC+,雙面PERC,p型和n型電池功率要求 110/230 V AC, 50/60 Hz

資質(zhì)認證根據(jù)ISO9001準則制造，符合CE標準

參考文獻： cells (1)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. Hähnel, S. Großer, M. Turek, C. Hagendorf, Local corrosion of silicon as root cause for potential induced degradation at the rear side of bifacial PERC solar cells. physica status solidi (RRL)–Rapid Research Letters. 2019, doi 10.1002/pssr.201900163

(2)V. Naumann, K. Ilse, M. Pander, J. Tröndle, K. Sporleder, C. Hagendorf, Influence of soiling and moisture ingress on long term PID susceptibility of photovoltaic

modules, AIP Conference Proceedings 2147, 090005 (2019).

(3)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. Hähnel, S. Großer, M. Turek, C. Hagendorf, Root cause analysis on corrosive potential-induced degradation effects at the rear side of bifacial silicon PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 201, 110062 (2019).

(4)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. Hähnel, S. Großer, M. Turek, C. Hagendorf, Microstructural Analysis of Local Silicon Corrosion of Bifacial Solar Cells

as Root Cause of Potential‐Induced Degradation at the Rear Side, Phys. Status Solidi A (2019), doi:10.1002/pssa.201900334.

(5)K. Sporleder, J. Bauer, S. Großer, S. Richter, A. Hähnel, M. Turek, V. Naumann, K. Ilse, C. Hagendorf, Potential-Induced Degradation of Bifacial PERC Solar Cells Under Illumination, IEEE Journal of Photovoltaics 9 (6) 1522-1525, 2019.

(6)K. Sporleder, M. Turek, N. Schüler, V. Naumann, D. Hevisov, C. Pöblau, S. Großer, H. Schulte-Huxel, J. Bauer, C. Hagendorf, Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 219, 110755, 2021.

(7)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, D. Hevisov, M. Turek, and C. Hagendorf, Time-resolved Investigation of Transient Field Effect Passivation States during Potential Induced Degradation and Recovery of Bifacial Silicon Solar Cells , Solar RRL, 2021, accepted.

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